2014年11月30日 星期日

愛德萬測試推出T2000平台最新參數量測模組

半導體測試設備領導者愛德萬測試推出T2000平台最新多功能參數量測儀(PMU)模組T2000 PMU32E,進一步提升數位、類比與電源管理系統單晶片(SoC)元件的測試效能。全新模組PMU32E具備高密度32通道,可與愛德萬測試原有PMU32模組完全相容,即使兩模組使用相同測試機台介面單元(tester interface unit;TIU),且能提供高於現有模組兩倍之解析度與精準度。

T2000測試系統結合全新PMU32E模組,將能在量測精準度、安裝時間與連結功能方面達到極高水準,媲美T2000 EPP系統效能。


愛德萬測試SoC測試事業執行董事暨執行副總裁岡安俊幸表示,愛德萬在這款全新參數量測儀模組上提供了更高效能,讓客戶能以較低投資成本獲得EPP測試系統功能。


T2000 PMU32E不僅量測時間較現有模組快上一倍以上,尤其在直流電線性量測時間方面,更因為取樣率與資料傳輸速度的提升而大幅縮短。量測速度的加快,使得測試產能能夠明顯提高,整體測試成本也隨之降低。


此套新模組另一個進一步改善操作效率的優勢,在於能夠執行針對現有PMU32模組所開發的測試程式;除此之外,PMU32E提供了兩倍之多的記憶體容量,讓不受通道之限的任意波形產生器(AWG)與數位器增添更多功能。


PMU32E亦支援晶片內建穩壓器(on-die regulator;ODR)連同其ISVM(電流源暨電壓量測)連結功能的載入測試。愛德萬測試全新PMU32E模組預計於2015年第1季開始出貨。






沒有留言:

張貼留言