聯發科技公司副總經理張垂弘表示:「聯發科技嚴格遵循極高的測試覆蓋率標準,以保證可能範圍內的最高產品質量。通過將SpyGlass DFT加入聯發科技的設計流程,我們已經看到測試覆蓋率的提升,並且能夠在設計流程的極早期階段就發現問題。這使得我們能夠同時滿足測試品質目標,積極的產品開發進度以及客戶的需求。」
之前的流程直到設計合成之後才開始檢查可測試性。這大大增加了發現並修正各種可能出現問題的時間和困難度,並且往往需要返回到RTL階段去做修改。Atrenta的工具使得設計工程師在RTL前期階段就能夠發現並鎖定可測試性問題, 使其作業更為靈活高效。
SpyGlass DFT和SpyGlass DFT DSM工具為聯發科技團隊的先進設計流程提供了進一步性能提升,使得團隊能夠在整個設計流程的最開始階段就可以對固定故障(Stuck-at)和跳變故障(Transition fault)進行分析以提高設計的可測試性。
工具在設計實現階段之前就可發現設計規則違例並報告出不可測試故障點,從而允許團隊能夠進行快速的設計修改,並就RTL品質和計畫進度方面給予設計團隊更多的信心。
Atrenta行銷副總裁Piyush Sancheti表示:「能夠和像聯發科技這樣的世界級傑出電子公司一起合作,並且能夠協助他們在更為輕鬆有效率的設計早期階段就發現問題,Atrenta為此感到自豪。DFT技術是我們RTL驗收方案的關鍵一環,我們的整個SpyGlass平台也都致力於此。」
Atrenta's SpyGlass Predictive Analyzer產品幫助世界頂級的半導體及消費類電子公司顯著提高設計效率。Atrenta以其特有的專利解決方案,針對複雜的系統晶片(SoCs)性能、能耗和晶片面積方面的需求,在設計早期為客戶提供前瞻性的分析,並以此推動當今消費電子行業的革命。
全球超過240家公司和上千名設計及驗證工程師依賴Spyglass產品減少風險,降低成本,同時利用Atrenta的BugScope產品提高驗證效率。工程師和設計經理們利用Atrenta的產品實現最快捷和最經濟的複雜晶片設計。
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